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自動(dòng)化檢定套件ACS.軟件半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)系統(tǒng)

自動(dòng)化檢定套件ACS.軟件半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)系統(tǒng)

型號(hào):ACS.

產(chǎn)品時(shí)間:2023-11-10

簡(jiǎn)要描述:

自動(dòng)化檢定套件ACS.軟件半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)系統(tǒng)用于半導(dǎo)體器件檢定、可靠性測(cè)試、參數(shù)化測(cè)試以及元器件功能測(cè)試。 ACS 支持各種 Keithley 儀器,以及 Keithley S500 和 S530 系統(tǒng)。

推薦產(chǎn)品
詳細(xì)介紹

自動(dòng)化檢定套件ACS.軟件半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)系統(tǒng)

什么是 ACS?

ACS 是一種功能強(qiáng)大的軟件框架,適用于執(zhí)行各種測(cè)試詳細(xì)檢定半導(dǎo)體器件的工程師。 ACS 適用于 Keithley 各種業(yè)界*的 SMU 儀器和系統(tǒng)。 使用標(biāo)準(zhǔn) ACS 在控制自動(dòng)化探頭的晶片或暗盒級(jí)自動(dòng)完成測(cè)試。 對(duì)于手動(dòng)測(cè)試或單臺(tái)設(shè)備測(cè)試,請(qǐng)考慮使用 ACS 基礎(chǔ)版。 對(duì)于高級(jí)多 DUT 晶片級(jí)可靠性 (WLR),請(qǐng)使用帶 ACS-2600-RTM 選項(xiàng)的標(biāo)準(zhǔn) ACS。  或從下面了解有關(guān)多種應(yīng)用程序、測(cè)量硬件和 ACS 功能的更多信息!

元器件檢定 IC 器件檢定 晶片級(jí)可靠性 芯片分類(lèi) 參數(shù)化測(cè)試

元器件檢定

為分立的半導(dǎo)體元器件(如 MOSFET、雙極晶體管、二極管、高功率 IGBT 等)創(chuàng)建和管理各種各樣的深入測(cè)試和測(cè)量結(jié)果。 在下面探SUO Keithley 的各種“測(cè)量功能”及相應(yīng)說(shuō)明。

測(cè)量功能

ACS 軟件 ACS 基礎(chǔ)軟件 2600B 系統(tǒng) SourceMeter ® SMU 儀器 2650A 高功率系統(tǒng) SourceMeter ® SMU 儀器 參數(shù)化 
波形記錄器 
4200-SCS 型參數(shù)分析儀 S500 集成式 
測(cè)試系統(tǒng)

單擊左側(cè)的測(cè)試功能查看其描述

ACS 軟件

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ACS 支持各種半自動(dòng)和全自動(dòng)探頭在整個(gè)晶片上對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行測(cè)量。 或者,以交互方式控制探頭測(cè)試每個(gè)器件。 在運(yùn)行時(shí)期間,通過(guò)單器件結(jié)果和多器件統(tǒng)計(jì)監(jiān)視測(cè)試進(jìn)度。

ACS 基礎(chǔ)版軟件

 

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ACS 基礎(chǔ)版主要適合通過(guò)手動(dòng)探頭測(cè)試臺(tái)和測(cè)試夾具進(jìn)行半導(dǎo)體元器件測(cè)試。 通過(guò)“譜線模式”快速地以交互方式執(zhí)行初始器件檢定。 或者,使用基于 GUI 的設(shè)置屏幕和廣泛的測(cè)量庫(kù)創(chuàng)建詳細(xì)的參數(shù)提取測(cè)試。 ACS 基礎(chǔ)版快速產(chǎn)生實(shí)時(shí)結(jié)果,可用于在 ACS 基礎(chǔ)版中分析,也可用于導(dǎo)出到其他離線分析工具。

2600B 系列系統(tǒng) SourceMeter ® 源測(cè)量單元 (SMU) 儀器

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2600B 系列 SourceMeter SMU 儀器提供雙通道單元,非常適合測(cè)試多端半導(dǎo)體,如 MOSFET 和 BJT。吉時(shí)利的 TSP-Link® 可在 SMU 儀器間提供協(xié)調(diào)控制和準(zhǔn)確定時(shí)。2600 系列產(chǎn)品有多種型號(hào)可供選擇,能夠滿(mǎn)足特定的電壓和電流技術(shù)規(guī)格。單擊此處 了解更多信息。

2650A 系列高功率系統(tǒng) SourceMeter 源測(cè)量單元 (SMU) 儀器

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2650A 系列高功率 SourceMeter SMU 儀器可用于各種測(cè)試配置。提供 3kV 或 50A 脈沖(高達(dá) 2000W 脈沖或 200W 直流)的源或測(cè)量。而且,YI流的低電流能力還提供出色的漏電測(cè)量。將吉時(shí)利用于集成式系統(tǒng)配置的 TSP-Link® 與低功率 2600B 系列 SourceMeter SMU 儀器配合使用。單擊 此處 了解更多信息。

PCT 配置

 

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Keithley 的參數(shù)化波形記錄器配置是適用于電源設(shè)備檢定的完整檢定解決方案,包括高性能儀器、電纜、測(cè)試夾具以及軟件。 有七種配置,每種配置都提供實(shí)時(shí)譜線模式和全參數(shù)化模式,前者用于快速檢查擊穿電壓等基本設(shè)備參數(shù),后者用于提取準(zhǔn)確的設(shè)備參數(shù)。

4200-SCS 型參數(shù)分析儀

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4200-SCS 型參數(shù)分析儀的 200V/1A SMU 和 400V C-V 功能非常適用于半導(dǎo)體元器件檢定。通過(guò) 2650A 高功率 SourceMeter SMU 儀器配置 4200-SCS,可測(cè)試高達(dá) 3kV 的電壓或 50A 的電流。通過(guò) ACS 基礎(chǔ)版軟件可在這一范圍的吉時(shí)利功能上創(chuàng)建和執(zhí)行測(cè)試。單擊 此處 了解更多信息。

S500 集成式測(cè)試系統(tǒng)

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自動(dòng)化檢定套件ACS.軟件半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)系統(tǒng)通過(guò) S500 集成式測(cè)試系統(tǒng)體驗(yàn)吉時(shí)利推出的完套解決方案。這些高度可配置的系統(tǒng)可以加入各種測(cè)量功能,用于技術(shù)開(kāi)發(fā)測(cè)試站?;蛘撸瑢?ACS 的自動(dòng)化功能與 S500 系統(tǒng)配合使用,通過(guò)自動(dòng)化晶片探頭執(zhí)行高吞吐量多器件測(cè)試。單擊 此處 了解更多信息。

 


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