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KeithleyS540參數(shù)化測試系統(tǒng)
S540 功能
- 在單次探頭觸摸中自動在多達(dá) 48 個(gè)引腳上執(zhí)行所有晶片級參數(shù)測試，包括高電壓擊穿、電容和低電壓測量，而無需更改電纜或探頭卡基礎(chǔ)設(shè)施
- 在最高達(dá) 3kV 的條件下執(zhí)行晶體管電容測量，如 Ciss、Coss 和 Crss，而無需手動配置測試引腳
- 在高速、多引腳、全自動測試環(huán)境中實(shí)現(xiàn)低電平測量性能
- 基于 Linux 的 Keithley 測試環(huán)境 (KTE) 系統(tǒng)軟件支持輕松進(jìn)行測試開發(fā)和快速執(zhí)行
- 非常適合于過程集成、過程控制監(jiān)控和生產(chǎn)芯片分類中的全自動或半自動應(yīng)用
- 通過CHENG度減少測試時(shí)間、測試設(shè)置時(shí)間和占地面積，降低擁有成本，同時(shí)實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室級測量性能
S46-18 最多為 32 非端接繼電器，包括 18、26.5 和 40GHz GPIB 全機(jī)架，2U
S46T-18 最多為 32 端接繼電器，包括 18 和 26.5GHz GPIB 全機(jī)架，2U
"4200A-SCS-PK1
高分辨率 IV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率
對于兩端和三端設(shè)備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備"
"4200A-SCS-PK2
高分辨率 IV 和 CV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
對于高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備"
"4200A-SCS-PK3
KeithleyS540參數(shù)化測試系統(tǒng)高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件" "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz
對于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(2) 4210-SMU
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備"
"4200-BTI-A
超快 NBTI/PBTI 套件" "用于使用* CMOS 技術(shù)套件進(jìn)行復(fù)雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括：
(1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊
(2) 4225-RPM 遠(yuǎn)程前置放大器/開關(guān)模塊
自動化檢定套件 (ACS) 軟件
超快 BTI 測試項(xiàng)目模塊
電纜"
2600-PCT-1B 低功率 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A - US $26,600
2600-PCT-2B 高電流 200 V/10 A 200 V/10 A 40 V/50 A 40 V/50 A - US $45,300
2600-PCT-3B 高壓 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 200 V/10 A 200 V/10 A - US $52,600
2600-PCT-4B 高電流和高電壓 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 40 V/50 A 40 V/50 A - US $71,400
S500 - 配置與報(bào)價(jià)
S530. - 配置與報(bào)價(jià)
S535 - 配置與報(bào)價(jià)
S540 - 配置與報(bào)價(jià)